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飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)
    发布时间: 2021-12-01 11:35    
飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)

应用领域:适用于有机、无机、生物、医学、电子、地质/考古、环境等领域的各种固体材料的分析。

性能特点:

1. 优异的掺杂剂和杂质检测灵敏度,可以检测到ppm或更低的浓度;

2. 深度剖析具有良好的检测限制和深度辨析率;

3. 小面积分析(10 µm 或更大);

4. 检测包含H在内的元素及同位素;优良的动态范围(6 orders of magnitude)